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EXAFS : basic principles and data analysis
Autor: Teo , Boon K.Língua: Inglês.País: Alemanha.Publicação: Berlin : Springer, 1986Descrição: XVIII, 349 pColeção: (Inorganic chemistry concepts ; 9)Assunto : Espetroscopia de raios X // Estrutura molecular // Absorção de raios X CDU: 539.26
Tipo de documento Localização Cota Informação volume Estado Data de devolução Código de barras Reservas
Livro Biblioteca da UA
Depósito da Biblioteca (Acesso restrito) 		5D.5275 (Ver prateleira) 1 Disponível 32199
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ISBN 3-540-15833-2 duplicado


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