Imaging and illumination for metrology and inspection : proceedings of the Meeting... / editor Donald J. Svetkoff

Autor secundário: Svetkoff , Donald J.Autor Institucional (Principal): Meeting on Imaging and Illumination for Metrology and Inspection, , Boston,, 1994Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 0-8194-1683-5.Publicação: Bellingham : SPIE Optical Engineering Press, cop. 1995Descrição: VII, 276 p. : ilColeção: (SPIE proceedings series ; vol. 2348)Assunto : Interferometria // Metrologia // Simulação por computador // Iluminação // Imagens -- Modelos matemáticos // Visualização tridimensional CDU: 681