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An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F. Watts, John Wolstenholme Publicação: Chichester : John Wiley and Sons, cop. 2003Descrição: X, 212 p. : il.Exemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca da UA (1).
Surface analysis by electron spectroscopy : measurement and interpretation / Graham C. Smith Publicação: New York (NY) : Plenum Press, 1994Descrição: XI, 156 p. : ilExemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca da UA (1).
Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic and atomic forces / Dror Sarid Publicação: New York : Oxford University Press, 1994Descrição: XIII, 263 p. : ilExemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca da UA (1).
Methods of surface analysis / edited by A. W. Czanderna Publicação: Amsterdam : Elsevier, 1989 imprDescrição: 481 p. : ilExemplares interditos: Biblioteca da UA (1).


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