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Applied survival analysis : regression modeling of time to event data / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow Publicação: New York (NY) : John Wiley & Sons, 1999-2002Descrição: 2 vol. : ilExemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca da UA (3).
Digital time series analysis Publicação: New York : John Wiley, 1972Descrição: X, 467 pExemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca da UA (1).


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