Applied survival analysis : regression modeling of time to event data / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow

Autor: Hosmer, Jr. , David W., (1944-)Co-autor: Lemeshow , Stanley, (1948-)Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 0-471-24979-3 ; 0-471-15410-5.Publicação: New York (NY) : John Wiley & Sons, 1999-2002Descrição: 2 vol. : ilColeção: (Wiley series in probability and statistics.. Texts and references section)Assunto : Medicina -- Investigação -- Métodos estatísticos // Prognóstico -- Métodos estatísticos // Análise de regressão -- Processamento de dadosCDU: 519.2:61