Bibliotecas UA catálogo › Detalhes para: Optical characterization of epitaxial semiconductor layers

Autor secundário: Bauer , Güenther, (1942-);Richter , Wolfgang, (1940-)Língua: Inglês.País: Alemanha.ISBN: 3-540-59129-X.Publicação: Berlin : Springer, cop. 1996Descrição: XIV, 429 p. : il.Assunto : Heteroestruturas // Crescimento de cristais // Epitaxia // Semicondutores -- Propriedades ópticasCDU: 620:538.91

Tipo de documento	Localização	Cota	Informação volume	Estado	Data de devolução	Código de barras	Reservas
Livro	Biblioteca da UA Piso 2 (Geral)	620G.402 (Ver prateleira)	1	Disponível		112708
Livro	Biblioteca da UA Depósito da Biblioteca (Acesso restrito)	6D.1750 (Ver prateleira)	1	Disponível		123650

Total de reservas 0

Anterior		Sem imagem de capa disponível	Sem imagem de capa disponível		Sem imagem de capa disponível		Sem imagem de capa disponível	Seguinte
Anterior	6D.1748.1 Microscopia electrónica de varrimento e microanálise de raios X por dispersão de energia	6D.1749 Sistemas distribuídos de produção em ambiente de produção simultânea	6D.175 Le pédiatre au téléphone	6D.1750 Optical characterization of epitaxial semiconductor layers	6D.1751 Comportamento térmico dos materiais	6D.1752 Materiais plásticos para a construção civil	6D.1753 New development in automobile materials for the 90'S	Seguinte