Automated optical inspection for industry : proceedings / Conference... ; eds Frederick Y. Wu, Shenghua Ye

Autor secundário: Wu , Frederick Y.;Ye , ShenghuaAutor Institucional (Principal): Conference on Automated Optical Inspection for Industry, , Beijing, China,, 1996Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 0-8194-2300-9.Publicação: Washington (DC) : SPIE, cop. 1996Descrição: XI, 716 p. : ilColeção: (SPIE proceedings series ; 2899)Assunto : Automação -- Aplicações industriais -- Congressos, conferências, etc. // Detectores ópticos -- Congressos, conferências, etc. // Medições ópticas -- Congressos, conferências, etc. // Controlo de qualidade -- Métodos ópticos -- Congressos, conferências, etc.CDU: 535:681.5(063)