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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
Autor: Murr , Lawrence E.Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 0-8247-8556-8.Edição: 2nd ed. rev. and expandedPublicação: New York (NY) : Marcel Dekker, 1991Descrição: XIV, 837 p. : il.Assunto : Microanálise // Sondas electrónicas // Microscopia electrónica // Microssondas // EspectroscopiaCDU: 543
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Livro Biblioteca da UA
Piso 4 (Avançado)
543A.203.2ed (Browse shelf) 1 Available 85942
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