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Particle characterization in technology / edited by John Keith Beddow
Autor secundário: Beddow , John KeithLíngua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 0-8493-5785-3 ; 0-8493-5784-5.Publicação: Boca Raton : CRC Press, 1984Descrição: 2 volColeção: (Uniscience series on fine particle science technology)Assunto : Pós // Contador Coulter // Partículas // Tamanho de partículas CDU: 543.2
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Vol. 2: Morphological analysis. - 265 p.: il. a cores. - ISBN 0-8493-5785-3 Vol. 1: Applications and microanalysis. - 246 p.:il. - ISBN 0-8493-5784-5


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