Applied survival analysis : regression modeling of time-to-event data / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow

Autor: Hosmer, Jr. , David W., (1944-)Co-autor: Lemeshow , Stanley, (1948-)Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 978-0-471-75499-2.Edição: 2nd edPublicação: Hoboken (NJ) : John Wiley & Sons, Inc, cop. 2008Descrição: XIII, 392 p. : ilColeção: (Wiley series in probability and statistics)Assunto : Medicina -- Investigação -- Métodos estatísticos // Análise de regressão -- Processamento de dados // Prognóstico -- Métodos estatísticosCDU: 519.2:61