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Applied survival analysis : regression modeling of time-to-event data / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
Autor: Hosmer, Jr. , David W., (1944-)Co-autor: Lemeshow , Stanley, (1948-)Língua: Inglês.País: Estados Unidos.ISBN: 978-0-471-75499-2.Edição: 2nd edPublicação: Hoboken (NJ) : John Wiley & Sons, Inc, cop. 2008Descrição: XIII, 392 p. : ilColeção: (Wiley series in probability and statistics)Assunto : Medicina -- Investigação -- Métodos estatísticos // Análise de regressão -- Processamento de dados // Prognóstico -- Métodos estatísticosCDU: 519.2:61
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Livro Biblioteca da UA
Piso 4 (Avançado)
519.2A.32.1.2ed (Browse shelf) 1 Available 283114
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