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Statistical pattern recognition : classification and feature selection in image processing / M. C. Ellis
Autor: Ellis , M. C.Língua: Inglês.País: Holanda.Publicação: [Enschede] : International Institute for Aerospace Survey and Earth Sciences, 1984Descrição: 74 p., pag. var. : ilColeção: (ITC lecture notes RSD 35)Assunto : Análise estatística // Reconhecimento de padrão -- Métodos matemáticos // Análise de erros (Matemática) // Processamento de imagemCDU: 519.2
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Livro Biblioteca da ESTGA
Escola Superior de Tecnologia e Gestão de Águeda (ESTGA)
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